利用液相沉淀法制备高纯度片状结构的AgO正极材料,通过物理掺杂的方法制备不同硅酸盐含量的AgO材料,并对其进行物性表征及电化学性能测试.利用碘量法分析样品的纯度,XRD研究表明随着含量的增加,硅酸盐的图谱更加明显.热重分析掺杂后的样品热分解温度无变化,第一个分解温度仍在210℃左右.在常温下测试其电化学性能,在4C恒流放电下,掺杂硅酸盐都有一个压降过程,其中质量分数约为12％的AgO样品的电压降低到0.2V.同时,老化试验测试表明,掺杂一定量的硅酸盐可以降低AgO材料的分解速率.
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