晶体表面宏观迹线分析方法及其应用

1.Department of Materials Science and Engineering,University of Virginia, Charlottesville,VA 22903,USA

2.大冶特殊钢股份有限公司技术中心,黄石,435001

3.北京航空航天大学材料科学与工程系,北京,100083

ANALYSIS METHOD OF MACROSCOPIC TRACE ON CRYSTAL SURFACE AND ITS APPLICATION

从晶体表面宏观迹线配置,提出精确确定各种晶系晶体的取向、计算单晶3个相互垂直表面上基体和孪晶中滑移面和孪生面等迹线分布的方法;作为应用实例,精确确定了一种四方点阵结构的Ti-56Al(原子分数,%)单晶的宏观取向,计算和拟合出试样3个不严格垂直表面的指数及其上全部迹线分布.

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