La2NiO4.147体系相变的低频内耗

金属学报, 2003, 39(11): 1157-1159. doi: 10.3321/j.issn:0412-1961.2003.11.008

La2NiO4.147体系相变的低频内耗

张华力 ^1, , 刘卫 ^2, , 苏金瑞 ^3, , 丁锦文 ^4, , 陈初升 ^5,

1.中国科学技术大学材料科学与工程系内耗与固体缺陷实验室,合肥,230026

2.中国科学技术大学材料科学与工程系内耗与固体缺陷实验室,合肥,230026

3.中国科学技术大学材料科学与工程系内耗与固体缺陷实验室,合肥,230026

4.中国科学技术大学材料科学与工程系内耗与固体缺陷实验室,合肥,230026

5.中国科学技术大学材料科学与工程系内耗与固体缺陷实验室,合肥,230026

关键词： La2NiO4 , 额外氧 , 低频内耗 , 马氏体相变

PHASE TRANSITION IN La2NiO4.147 SYSTEM STUDIED BY LOW-FREQUENCY INTERNAL FRICTION TECHNIQUE

通过电化学加氧方法获得额外氧含量δ=0.147、结构为Fmmm的La2NiO4+δ样品.低频内耗测量表明,400K温区附近存在一个相变内耗峰,它对应体系从低温正交Fmmm相到高温四方I4/mmm相的转变,模量和内耗的升、降温回滞现象反映此相变为一级相变.变频和改变升温速率内耗实验表明,内耗峰高与测试频率成反比,与升温速率成正比,具有马氏体相转变特征.低δ值的La2NiO4+δ样品无此相变峰,说明此峰应与低温正交Fmmm相中额外氧的三维有序变化相关.

参考文献

[1]	Hayashi A, Tamura H, Ueda Y. Physica, 1993; 216C: 77
[2]	Tranquada J M, Kong Y, Lorenzo J E, Buttrey D J, Rice D E, Sachan V. Phys Rev, 1994; 50B: 6340
[3]	Tamura H, Hayashi A, Ueda Y. Physica, 1996; 258C: 61
[4]	Tamura H, Hayashi A, Ueda Y. Physica, 1993; 216C: 83
[5]	Liu W, Ge T S. Physica, 1992; 121C: 196
[6]	Wang Y N, Yang Z J, Zhu H, Ma J C. J Nanjing Univ(Nat Sci), 1963; 7: 1(王业宁,杨正举,祝和,马进超.南京大学学报(自然科学版),1963;7:1)
[7]	Lee W-K , Lew M, Nowick A S. Phys Rev, 1990; 41B: 149

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