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制备了组分为xCuFe2O4-(1-x)PbZr0.53Ti0.47O3(其中x=0.1,0.2,0.3,1.0)的磁电复合材料.XRD实验表明,样品中只存在着CuFe2O4和PbZr0.53Ti0.47O3相.利用多功能摆测量了样品在低频下(0.1-6.4 Hz)的内耗,同时利用HP 4194A阻抗分析仪测量了样品低频(100 Hz-1 MHz)的介电损耗,分析了复合物中CuFe2O4和PZT对内耗及介电损耗分别所作的贡献.

参考文献

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