用内耗频率谱仪测量了多晶铜、纳米晶铜和单晶铜试样的内耗频率谱,在170,320以及490 Hz附近观测到3个明显的共振吸收频率峰.3种试样在晶粒结构上存在极大差别,但其共振吸收内耗峰出现在相同频率范围,这说明产生内耗频率峰的机制与晶体缺陷和晶粒尺度无关,而与材料的晶体点阵性质密切相关.
参考文献
[1] | Zhang J X, Xiong X M. Acta Metall Sin, 2003; 39:1127(张进修,熊小敏.金属学报,2003;39:1127) |
[2] | Zhang J X , Gong K, Xiong X M, Ding X D. Chin Phys Lett, in press |
[3] | Gong K. PhD Dissertation, Zhongshan University,Guangzhou, 2003(龚康.中山大学博士学位论文,广州,2003) |
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