疲劳过程中垂直晶界Cu双晶形变带中位错组态与裂纹形核

1.中国科学院金属研究所沈阳材料科学国家(联合)实验室,沈阳,110016

2.中国科学院金属研究所沈阳材料科学国家(联合)实验室,沈阳,110016

3.中国科学院金属研究所沈阳材料科学国家(联合)实验室,沈阳,110016

基金项目: 国家重点基础研究发展计划(973计划)(G19990650) 国家自然科学基金(50271075)

DISLOCATION PATTERN IN DEFORMATION BAND AND CRACK NUCLEATION IN A FATIGUED COPPER BICRYSTAL WITH PERPENDICULAR GRAIN BOUNDARY

采用电子通道衬度技术对垂直晶界Cu双晶在疲劳过程中位错组态的演化与裂纹的形核进行了研究.结果表明,形变带中墙结构的间距从形成之初到疲劳裂纹出现始终保持恒定;穿晶裂纹与沿晶裂纹尖端的位错组态均为胞结构;裂纹优先从形变带产生.

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