使用磁控溅射法制备了不同调制波长的Ni/Al多层膜,利用X射线衍射(XRD)和高分辨电子显微术(HRTEM)对薄膜进行了微结构表征,采用连续刚度法(CSM)研究了不同压入深度下多层膜的硬度.结果表明,随调制波长减小,薄膜呈纳米晶结构特征且存在超硬效应.调制波长L大于30nm时,纳米压入硬度随压入深度的增加而升高;L小于30nm时,最大压入深度的硬度测量值反而最小.同时发现压入深度较小时硬度相对大小对调制波长不敏感.结合微结构表征,从晶界和膜界的竞比变形角度进行了分析讨论.
参考文献
[1] | Amar G J.Phys Rev Lett,1990; 64:543 |
[2] | Saha.R,Nix W D.Acta Mater,2002; 50:23 |
[3] | Saha.R,Nix W D.Mater Sci Eng,2001; A319:898 |
[4] | Lilleodden E T,Nix W D.Acta Mater,2006; 54:1583 |
[5] | Choi Y,Vliet K J V,Li J,Suresh S.J Appl Phys,2003;94:6050 |
[6] | Cheng Y T,Cheng C M.Mater Sci Eng,2004; R44:91 |
[7] | Shan Z W,Stach E A,Wiezorek J M K,Knapp J A,Follstaedt D M,Mao S X.Science,2004; 305:654 |
[8] | Chen M W,Ma E,Hemker K J,Sheng H W,Wang Y M,Cheng X M.Science,2003; 300:1275 |
[9] | Schiotz J,Tolla F D D,Jacobsen K W.Nature,1998; 391:561 |
[10] | Marvina L A,Marvin V B.Tech Phys,1997; 42:49 |
[11] | Xu J H,Yu L H,Azuma Y,Fujimoto T,Umehara H,Kojima I.Appl Phys Lett,2002; 81:4139 |
[12] | Koehler J S.Phys Rev,1970; 2B:547 |
[13] | Chu X,Barnett S A.J Appl Phys,1995; 77:4403 |
[14] | Evers L,Brekelmans W,Geers M.Int J Solids Struct,2004; 41:5209 |
[15] | Misra A,Verdier M,Lu Y C,Kung H,Mitchell T E,Nastasi M,Embury J D.Scr Mater,1998; 39:555 |
[16] | Nes E,Holmedal B,Evangelista E,Marthinsen K.Mater Sci Eng,2005; A410-411:178 |
[17] | Marthinsen K,Nes E.Mater Sci Technol,2001; 17:376 |
[18] | Misra A,Hirth J P,Hoagland R G.Acta Mater,2005; 53:4817 |
[19] | Hoagland R G,Kurtz R J,Henager C H.Scr Mater,2004;50:775 |
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