研究了具有热分解氧化反应的CuO、MnO2等的一类氧化物对TiO2压敏电阻器性能的影响,采用C-V分析、I-V测量和介电测量等实验手段,分析了它们的作用机理. 结果发现,在晶界处发生的热分解氧化反应能增加界面态密度,提高晶界势垒高度,从而改善TiO2电容压敏电阻器的非线性性能.
参考文献
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