Y3+离子掺杂钨酸铅晶体特殊的低剂量率辐照行为一般在晶体顶端表现更为明显,以往研究认为该现象起因于晶体中有效分凝系数<1的Na+、K+和Si4+等杂质在顶端的富集.本文研究了Si4+掺杂的Y3+:pwO晶体,对晶体顶端和晶种端的分段晶体测试了退火温度对晶体透过率和辐照硬度的影响,结果发现:在实验所涉及的掺杂浓度范围内,Si4+离子杂质对Y3+:pwO晶体的辐照硬度及透过率无影响,可以认为Ya+:pWO晶体特殊的低剂量率辐照行为和晶体中的Si4+离子含量无关.
参考文献
[1] | Baccaro S, et al. Phys. Stat. Sol. (a), 1997, 164: R9-R10. |
[2] | Qu Xiangdong. Thesis for Doctor Degree, Shanghai Institute of Ceramics, Chinese Academy of Sciences, 2001. |
[3] | Nikl M, et al. Appl. Phys. Lett., 1997, 71 (26): 3755-3757. |
[4] | Qisheng Ling, et al. Phys. Stat. Sol. (a), 2000, 181: R1-R3. |
[5] | Qisheng Ling, et al. Sol. Stat. Com., 2001, 118: 221-223. |
[6] | Li Wengsheng. Thesis for Doctor Degree, Shanghai Institute of Ceramics, Chinese Academy of Sciences, 2000. |
[7] | 周公度.无机结构化学,第一版.科学出版社,1982.296-300. |
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