采用相变方法系统研究了脉冲电流烧结AlOOH样品不同截面处相的状态.结果发现(1)样品上表面与下表面具有不同的相,表明样品中温度由高至低逐渐变化,(2)样品上表面较次上表面衍射峰弱.通过微波等离子轰击及热压烧结的实验模拟,发现样品上表面的XRD图与微波等离子轰击同样样品产生的XRD图极为相似.说明上表面的衍射峰与被离子轰击产生晶格缺陷有关.对形成这种上下表面结构不均匀性的原因进行了分析,并给予适当解释.
参考文献
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