纳米尺度铁电畴的扫描力显微镜成像研究进展

无机材料学报, 2002, 17(6): 1095-1104. doi: 10.3321/j.issn:1000-324X.2002.06.002

纳米尺度铁电畴的扫描力显微镜成像研究进展

曾华荣 ^1, , 方健文 ^2, , 惠森兴 ^3, , 李国荣 ^4, , 殷庆瑞 ^5,

1.中国科学院上海硅酸盐研究所高性能陶瓷与超微结构国家重点实验室,上海,200050

2.中国科学院上海硅酸盐研究所高性能陶瓷与超微结构国家重点实验室,上海,200050

3.中国科学院上海硅酸盐研究所高性能陶瓷与超微结构国家重点实验室,上海,200050

4.中国科学院上海硅酸盐研究所高性能陶瓷与超微结构国家重点实验室,上海,200050

5.中国科学院上海硅酸盐研究所高性能陶瓷与超微结构国家重点实验室,上海,200050

基金项目: 上海市科技发展基金(99JC14015)

关键词：纳米尺度 , 铁电畴 , 扫描力显微镜

Progress in the Imaging of Nanoscale Ferroelectric Domain via Scanning Force Microscope

扫描力显微镜(SFM)作为一种新型的超分辨率近场扫描探针显微仪器正日益受到各学科领域的高度重视.在铁电材料领域,SFM是开展纳米尺度铁电畴结构成像、纳米尺度畴结构控制及纳米尺度微区的铁电性、介电性、压电性等特性研究的潜在的强有力的研究工具.本文就纳米尺度铁电畴的扫描力显微镜的成像原理的研究进展作一综述.

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