欢迎登录材料期刊网

材料期刊网

高级检索

利用原子力显微镜研究了MgCl2介质中氧化铝表面相互作用力随距离的变化.发现当MgCl2介质浓度为10-4mol/L,pH分别为3.96和7.92时,在两表面距离<10nm处存在一短程非双电层排斥力.pH进一步提高到9.5,MgCl2介质浓度在10-4~10-2mol/L时,也存在短程排斥作用.它阻止了两表面由于范德华力产生的吸引.在较低和中等pH条件下,短程斥力来源于水合镁离子在氧化铝表面的特性吸附;在较高pH条件下,镁离子以各种氢氧化物形式吸附在氧化铝表面产生短程排斥力.随pH的升高,这种吸附层变得致密而失去弹性.

参考文献

[1] Myers D. Surfaces, Interfaces and Colloids, 1991VCH publishers, INC.
[2] Israelachvili J N, Adams G E. J. Chem. Soc. Faraday Trans. I, 1978, 74: 975-1001.
[3] Pashley R M, J. Coll. Inter. Sci., 1981, 80(1): 153-162.
[4] Israelachvili J N, Pashley E M. Nature, 1983, 306(17): 249-250.
[5] Grabbe A, Horn R G. J. Coll. Inter. Sci., 1993, 157: 375-383.
[6] Pedersen H G. Langmuir, 1999, 15: 3015-3017.
[7] Cleveland J P, Manne S J, Bocek D, et al. Rev. Sci. Instrum., 1993, 64: 403-405.
[8] Anders M. "Force measurements using scanning probe microscopy ", Ph.D. Thesis, stockholm,2000.
[9] Ducker W A, Senden T J, Pashley R M. Nature, 1991, 353: 239-241.
[10] Ducker W A, Senden T J, Pashley R M. Langmuir, 1992, 8: 1831-1836.
[11] Chou K S, Lee L J. J. Am. Ceram. Soc., 1989, 72(9): 1622-1627.
[12] Rao A S. Ceram. International, 1998, 14: 71-76.
[13] Pashley R M. J. Coll. Interface Sci., 1981, 83(2): 531-546.
[14] Butt H J. Biophys. J., 1991, 60: 1438-1444.
[15] Ducker W A, Xu Z, Clarke D R, et al. J. Am. Ceram. Soc., 1994, 77(2): 437-443,
[16] Martel A E, Smith R M. "Critical Stability Constants. " Vol.5 "Inorganic Complexes, " p393,1st Suppl. Plenum, New York, 1982.
上一张 下一张
上一张 下一张
计量
  • 下载量()
  • 访问量()
文章评分
  • 您的评分:
  • 1
    0%
  • 2
    0%
  • 3
    0%
  • 4
    0%
  • 5
    0%