采用四乙氧基硅(TEOS)为硅包膜剂,在SrAl2O4:Eu2+,Dy3+发光颜料颗粒表面进行包膜,通过扫描电镜(SEM)、粒度测量、BET比表面积测试及X射线光电子能谱(XPS)分析,证实发光颜料颗粒表面包覆了一层厚度约为14nm的致密均匀的SiO2纳米膜.耐水性能及发光性能测试表明,包膜后发光颜料耐水性明显改善,发光性能变化较小.分析表明包膜过程实际上是水合二氧化硅在颜料颗粒表面的溶胶-凝胶过程,其最佳工艺条件为:包膜溶液pH约为10;包膜温度控制在80℃;包膜时间为3.0h.
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