研究了烧结温度及升温速率对氧化硼(B2O3)掺杂钛酸锶钡梯度陶瓷(Ba1-xSrxTiO3,x=0~0.4,步长0.02)的致密化、晶粒尺寸及介电性能的影响.结果表明,随着烧结温度的升高,在氧化硼挥发的同时致密化程度提高,从而居里峰提高且变得尖锐;随着氧化硼含量的增加,晶粒尺寸均匀长大、介电常数和介电损耗都增加;升温速率适中时,掺杂物的挥发、致密化进程及晶粒长大同步完成,梯度陶瓷介电性能才有效提高.此外,钛酸锶钡梯度陶瓷掺杂适量氧化硼明显降低烧结温度,比未掺杂相同成分的陶瓷烧结温度至少降低150℃,且介电损耗明显减小;梯度陶瓷的居里峰温度区间显著展宽,大大降低了该温区的介温系数,可望提高该系列陶瓷元器件精度及稳定性.
参考文献
[1] | Liang X F, Wu W B, Meng Z Y. Mater. Sci. Eng., 2003, B99: 366-369. |
[2] | Thakur P, Prakash C, Agrawal D K. Mater. Sci. Eng., 2002, B96: 221-225. |
[3] | 张磊,等(Zhang Lei,et al).硅酸盐学报(Journal ofthe Chinese Ceramics Society),2002,30(6):785-788. |
[4] | 张磊,等.物理学报,2000,49(7):1371-1376. |
[5] | Jeon J H, Hahn Y D, Kim H D. J. Eur. Ceram. Soc., 2001, 21: 1653-1656. |
[6] | 程华容,等(Cheng Huarong,et al).无机材料学报(Journal ofInorganic Materials),2004,19(5):1017-1024. |
[7] | Rhim S M, et al. J. Am. Ceram. Soc., 2000, 83(5): 1145-1148. |
[8] | Rhim S M, et al. J. Am. Ceram. Soc., 2000, 83(2): 3009-3013. |
[9] | 李标荣,王筱珍,张绪礼.无机电介质,第一版.武汉:华中理工大学出版社,1995.79-101. |
[10] | Buchanan Relva C. Ceramic Materials for Electronics. New York: Marcel Dekker, INC., 1986. 87-92. |
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