采用表面改性法制备了SiO2负载的复合半导体材料NiO-V2O5.用BET、TPR、XRD、Raman、TEM、IR和UV-Vis DRS技术对固体材料的结构和光吸收性能进行了表征.结果表明V2O5在载体表面以微晶形式存在,粒径约为10nm,NiO和V2O5复合后部分形成了Ni2+-O-V5+键联,而且NiO和V2O5在固体材料表面有相互修饰作用.NiO的加入有助于提高V2O5在载体SiO2表面的分散程度,抑制V2O5的聚合,减小微晶尺寸,而且可以增强固体材料的光吸收性能,提高复合半导体对光能的利用率.
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