为研究磁过滤阴极弧制备的四面体非晶碳(tetrahedral amorphous carbon,ta-C)膜在自然环境中使用的热稳定性,将ta-C膜在空气中退火3h,退火温度分别为200、400和500°C.用XPS和Raman谱对膜的微观结构进行表征.结果表明,在400及400°C以下退火,XPS谱C1s峰和Raman谱都没有明显变化.当退火温度为500°C时,C1s峰峰形仍然没有变化;Raman 峰 ID/IG增大,G峰峰位末变,峰的对称性变好.分析显示膜中石墨颗粒长大,但没有发生石墨化.说明磁过滤阴极弧制备的ta-C膜因不含氢和结构致密而表现出良好的热稳定性.另外,在退火温度为500°C时,样品边缘已经氧化挥发.
参考文献
[1] | Pharr George M,Callahan Daniel L,McAdams Shaun D,et al.Appl.Phys.Lett.,1996,68 (6):779-781. |
[2] | Lossy Richard,Pappas David L,Roy Ronnen A,et al.Appl.Phys.Lett.,1992,61 (2):171-173. |
[3] | Tay B K,Shi X,Liu E J,et al.Diamond and Related Materials,1999,8 (7):1328-1332. |
[4] | Leng Y X,Chen J Y,Yang P,et al.Surface and Coatings Technology,2003,173 (1):67-73. |
[5] | 居建华,夏义本,张伟丽,等.功能材料,2001,32(5):473-477. |
[6] | 金哲,李俊杰,盖同样,等.吉林大学学报(理学版),2003,41(4):497-500. |
[7] | Yang W J,Choa Y H,Sekino T,et al.Thin Solid Films,2003,434 (1-2):49-54. |
[8] | Richter A,Scheibe H J,Pompe W,et al.Non-Crystalline Solids,1986,88 (1):131-144. |
[9] | Ferrari A C,Kleinsorge B,Morrison N A,et al.J.Appl.Phys.,1999,85 (10):7191-7197. |
上一张
下一张
上一张
下一张
计量
- 下载量()
- 访问量()
文章评分
- 您的评分:
-
10%
-
20%
-
30%
-
40%
-
50%