基于LabVIEW的光电器件I-V测试系统

液晶与显示 , 2011, 26(1): 59-63. doi: 10.3788/YJYXS20112601.0059

基于LabVIEW的光电器件I-V测试系统

杨勇 ^1, , 王丽娟 ^2, , 陈金星 ^3, , 贾昧超 ^4, , 石中玉 ^5,

1.长春理工大学,理学院,吉林,长春,130022

2.长春理工大学,理学院,吉林,长春,130022

3.长春理工大学,理学院,吉林,长春,130022

4.长春理工大学,理学院,吉林,长春,130022

5.长春理工大学,理学院,吉林,长春,130022

基金项目: 吉林省科技厅青年基金(20090141)

关键词：光电器件 , 虚拟仪器 , LabVIEW , SCPI命令

Optoelectronic Device I-V Testing System Based on LabVIEW

基于虚拟仪器技术,利用美国国家仪器(NI)公司的PCI-GPIB卡、LabVIEW软件和美国Keithley公司的6517静电计/高阻汁等设备,建立了一套光电器件(太阳能电池,薄膜晶体管等)电流电压(I-V)特性测试平台,对光电器件的性能参数进行测试.该套测试系统通过LabVIEW程序控制Keithley6517,并通过GPIB卡实现对电压、电流数据的采集、显示、存储、分析等功能,根据测得的数据绘制出I-V特性曲线,根据不同的器件可以给出相应参数.以太阳能电池为例,计算出了太阳能电池的开路电压(Voc)、短路电流(Isc)、最大功率(Pm)、填充因子(FF)和转换效牢(PCE).校正对比测试结果表明,该系统效率的最大误差为0.18%.

参考文献

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[7]	National Instruments.LabVIEW Measurements Manual[DB/OL].[2010-04-17].http://digital ni.com/manuals.nsf/websearch/9D3D53011387875F86256D2C0061F6BE.
[8]	陈锡辉,张银鸿.LabVIEW8.20程序设计从入门到精通[M].北京:清华大学出版社,2007:87-89.

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Optoelectronic Device I-V Testing System Based on LabVIEW

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