Touch Mura在整个TFT-LCD制作流程中非常容易发生,并且严重影响产品性能.文章主要研究了液晶量、Sub PS设计、PS段差设计及工艺参数Total pitch对Touch Mura的影响.实验结果表明液晶量的增加能够补偿敲击偏移,减轻Touch Mura不良；Sub PS的Z字形设计由于阻挡效应能够有效减轻Touch Mura;Main PS和Sub PS的段差越大,Touch Mura margin越小；工艺参数Total Pitch越接近设计值,Touch Mura风险越小.所以在设计过程中优化液晶量和Main-Sub PS段差设计及Sub PS设计能够有效减低Touch Mura风险,此外,生产过程中对工艺参数Total pitch的管控也至关重要.
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