采用磁控溅射离子镀和等离子喷涂方法在Be表面制备铝镀层,并分别用扫描电镜(SEM)、透射电镜(TEM)、X射线衍射仪(XRD)、俄歇电子能谱仪(AES)和X射线应力分析仪分析了膜层微结构、表面形貌、膜与基体界面情况以及内应力等.研究表明,Be上磁控溅射离子镀Al时,在膜基界面形成宽度约为 1 μm 的 Be、Al 原子共混区,膜层由柱状晶组成,膜层应力为微压应力.等离子喷涂涂层不如前者致密,界面存在微裂纹,膜层应力为拉应力.
参考文献
[1] | Dini J W;Johnson H R.[J].Plating and Surface Finishing,1976(06):41. |
[2] | Westlund E F;Lohmann H G .[J].Welding Journal,1967,46:207. |
[3] | Brown D W .Formation of subsurface Aluminum layers in beryllium by ion implation and post-implant annealing[P].UCRL-53947,1991. |
[4] | Armbruster M M;Renard P.Diffusion bonding of beryllium.Fourth interconference on Be[M].London:The roral society:41. |
[5] | Odegard Jr B C;Cadden C H;Watson R D;Slattery K T .[J].Journal of Nuclear Materials,1998,258-263:329. |
[6] | 田民波;刘德令.薄膜科学与技术手册[M].北京:机械工业出版社,1991:463. |
[7] | 唐伟忠.薄膜材料制备原理、技术及应用[M].北京:冶金工业出版社,1998 |
[8] | Liu C L;Cohen J M;Adams J B;Voter A F .[J].Surface Science,1991,253:334. |
[9] | Korhonen M A .On the improvement of the accuracy of stress measurement by X-Ray camera methods[D].Ph.D.Thesis,Helsinki University of Technology,1980. |
[10] | WEBSTER D;London G J.Beryllium Science and Technology[M].New York: Plenum Press,1979:263. |
上一张
下一张
上一张
下一张
计量
- 下载量()
- 访问量()
文章评分
- 您的评分:
-
10%
-
20%
-
30%
-
40%
-
50%