用低压MOCVD多源法在单晶YSZ和具有双轴取向IBAD-YSZ的金属基带上沉积了YBCO膜,它们的Jc(77.3K,0T)分别为~2×106A/cm2和~7×104A/cm2.分析了本试验中的Jc差别原因.在单晶YSZ上YBCO高Jc 数值显示了用MOCVD制备涂层膜导体的潜力.
参考文献
[1] | Iijima et al.[J].IEEE Transactions on Applied Superconductivity,1993,3:1510. |
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[5] | 任琮欣 等.本会议报告[R]. |
[6] | V Selvamanickam.Applied Superconductivity Conference[C].Palm Desert,USA,1998 |
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