YBCO高温超导体Josephson阵列体系的I-V特性研究

低温物理学报 , 2002, 24(4): 287-292. doi: 10.3969/j.issn.1000-3258.2002.04.009

YBCO高温超导体Josephson阵列体系的I-V特性研究

肖胜 ^1, , 徐克西 ^2, , 刘石香 ^3, , 付华明 ^4,

1.上海大学物理系,上海,200436

2.上海大学物理系,上海,200436

3.上海大学物理系,上海,200436

4.上海大学物理系,上海,200436

基金项目: 上海市教育发展基金

RESEARCH OF CURRENT-VOLTAGE CHARACTERISTICS IN JOSEPHSON JUNCTION ARRAYS OF YBCO GRANULAR FILMS

从磁通运动图象出发,推导了YBa2Cu3O7-δ(YBCO)颗粒膜的I-V特性关系式,并从实验上加以验证,结果表明:在TTKT时,I-V呈线性关系,样品以欧姆损耗为主;而在T=TKT时,I-V将出现突变,这跟K-T相变模型所描述的一致.

参考文献

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