大面积高温超导薄膜临界温度无损伤测试

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NON-DESTRUCTIVE MEASUREMENT OF CRITICAL TEMPERATURE FOR LARGE-AREAR HTSC THIN FILMS

我们设计并制作了高温超导薄膜无损伤超导转变温度Tc测试系统, 可以在直径2英寸范围内同时测量13个位置上的Tc.测试过程中可以用图形或数字监视薄膜的超导转变,方便可靠.系统采用液氮制冷,测试速度快,测量误差约±0.2K.对于直径2英寸或小于2英寸薄膜的Tc,本系统是一套实用可靠的测量设备.

[1]	H Jiang;Z X Zhao;H C Li 等.[J].Physica,1997,C282-287:2377-2378.
[2]	李顺洲,孙永伟,何艾生,董世迎,王小平,何豫生.超导双面膜Tc与Jc的无损测量系统[J].低温物理学报,2002(02):133-136.
[3]	H Schneidewind;M Manzel;G Bruchlos .TlBaCaCuO-(2212) thin films on lanthanum aluminate and sapphire substrates for microwave filters[J].Superconductor Science & Technology,2001(4):200-212.
[4]	H Hochmuth;M Lorenz .[J].Physica C,1994,220:209.
[5]	L Yan;L Fang;M S Si;H L Cao,Q X Song,J Yan,X D Zhou,and J M Hao .Supercond Sci and Techno[J].Superconductor Science and Technology,1994,7(07):681.

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