通过测量La0.67-xSmxSr0.33MnO3(x=0.40,0.50,0.60)体系的M～T曲线和ρ～T曲线,研究了La位Sm掺杂对体系电阻温度系数 (TCR)的影响.实验结果表明:Sm掺杂引起的电阻率曲线急剧变化,导致大的TCR出现;TCR在x=0.40时出现峰值,随Sm掺杂的增加,TCR值逐渐减小.体系出现大的TCR,来源于Sm掺杂引起的晶格畸变和额外磁性.
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