本文采用0.25微米工艺制备了CMOS器件和电路,通过对300K、77K和4K温度下器件和电路特性的测量,研究了工作温度降低对CMOS电路特性的影响.通过讨论MOSFET器件和互连线主要特性参数随温度的变化情况,修改了常温CMOS BSIM3模型以及互连线参数,建立了77K、4K温度下的低温电路仿真模型.利用上述新建立的低温电路仿真模型对CMOS电路进行仿真,并将仿真结果与实际测量结果比较,获得了比较一致的结果.研究表明在4K温度下CMOS电路的工作性能大约有50%到60%的改善.
参考文献
| [1] | D K Brock;E K Track;J M Rowell .[J].IEEE Spectrum,2000,37:40. |
| [2] | Nasagawa S;Numata H;Hashimoto Y;Tahara S .[J].IEEE Transactions on Applied Superconductivity,1999,9:3708. |
| [3] | Y. J. Feng;X. Meng;S. R. Whiteley;T. Van Duzer;K. Fujiwara;H. Miyakawa;N. Yoshikawa .Josephson-CMOS Hybrid Memory With Ultra-High-Speed Interface Circuit[J].IEEE Transactions on Applied Superconductivity: A Publication of the IEEE Superconductivity Committee,2003(2 Pt.1):467-470. |
| [4] | Clifford Y;C Hwang.University of California[M].Los Angeles,1999 |
| [5] | L T Huynh.University of California[M].Berkeley,1995 |
| [6] | 邓恩科;朱秉升;罗晋生.半导体物理学[M].北京:电子工业出版社,2003 |
| [7] | C T Sah;P C H Chan;C K Wang;R L Y Sah,K A Yamakawa,R Lutwack .[J].IEEE Transactions on Electron Devices,1981,28:304. |
| [8] | E Conwell;V F Weisskopf .[J].Physical Review,1950,77:388. |
| [9] | Ansoft SpicelinkTM;Ansoft Co .[OL].http://www ansoft com |
| [10] | BSIM3v3 2 MOSFET Model User's Manual,Department of Electrical Engineering,and Computer Sciences[M].University of California,Berkeley |
| [11] | 李渝,李晓航,宋乃浩,肖立业.高温超导线圈在大电流下稳定性的数值仿真[J].低温物理学报,2004(01):76-80. |
| [12] | 蒋彦龙,陈国邦,甘智华,G·Thummes.回热器流阻对脉管制冷机稳定性的影响[J].低温物理学报,2004(03):243-250. |
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