NiTi形状记忆合金相变过程的正电子湮没研究

低温物理学报 , 2006, 28(3): 236-241. doi: 10.3969/j.issn.1000-3258.2006.03.008

NiTi形状记忆合金相变过程的正电子湮没研究

邓文 ^1, , 胡益丰 ^2, , 岳丽 ^3, , 郝文博 ^4, , 黄乐 ^5, , 黄宇阳 ^6, , 熊良钺 ^7,

1.广西大学物理科学与工程技术学院,南宁,530004

2.广西大学物理科学与工程技术学院,南宁,530004;江苏技术师范学院基础部,常州,213001

3.广西大学物理科学与工程技术学院,南宁,530004

4.广西大学物理科学与工程技术学院,南宁,530004

5.广西大学物理科学与工程技术学院,南宁,530004

6.广西大学物理科学与工程技术学院,南宁,530004

7.中国科学院金属研究所,沈阳,110016

基金项目: 国家自然科学基金(50361002) 广西自然科学基金(桂科回0448006)

关键词： NiTi合金 , 微观缺陷 , 电子密度 , 马氏体相变 , 正电子湮没

PHASE TRANSFORMATION IN NiTi SHAPE MEMORY ALLOYS STUDIED BY POSITRON ANNIHILATION

采用正电子湮没技术研究了NiTi合金在降温和升温过程中缺陷和电子密度随温度的变化.在降温过程中,当温度从295K降至225K时,合金的电子密度nb随温度的降低而下降,在225K时降至最小;随后,nb随温度的降低而升高.当温度从295K降至221K时,合金缺陷的开空间随温度的下降而升高,在221K时达到最大值;随后,缺陷的开空间随温度的下降而下降.在升温过程中,当温度从25K升至253K时,合金的电子密度nb随温度的升高而降低,并在253K时达到最小;当温度从253K升至295K时,合金电子密度nb随温度的升高而升高.在相变临界温度点Ms=222K,Mf=197.2K,A,=237.5K,Af=255.5K附近,合金的电子密度nb及合金缺陷的开空间均有异常的变化.

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