研制了成分为Pt,Pd,Au,Ag,Cu,Zn,Ni,Co的多元体系的铂饰校正样品,并用于多元体系铂饰品的X射线荧光光谱无损检测,结果令人满意.测量结果误差<1.0%,符合GB/T18043-2000国家标准规定的允许差,方法RSD小于3.0%.
参考文献
[1] | GB/T 18043-2000.贵金属首饰含量的无损检测方法 X射线荧光光谱法[S].,2000-9-1. |
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