欢迎登录材料期刊网

材料期刊网

高级检索

本文介绍了用偏硼酸锂(33%)和四硼酸锂(67%)混合助熔剂熔融制样,加补钴粉做内标,采用X-射线荧光光谱法定量测定铁矿石中的TFe,SiO2,CaO,MgO,Al2O3,P,S含量,经大量实践数据证明,完全符合误差要求,精密度高,准确度可靠,不仅大大缩短了分析时间,提高了工作效率,而且降低了劳动强度.

参考文献

[1] 高新华,丁志强.X射线荧光分析技术在冶金分析中的应用[J].钢铁,2001(03):64-68.
上一张 下一张
上一张 下一张
计量
  • 下载量()
  • 访问量()
文章评分
  • 您的评分:
  • 1
    0%
  • 2
    0%
  • 3
    0%
  • 4
    0%
  • 5
    0%