ICP-MS法测定钨精矿中杂质元素

冶金分析 , 2005, 25(2): 42-46. doi: 10.3969/j.issn.1000-7571.2005.02.011

ICP-MS法测定钨精矿中杂质元素

黄冬根 ^1, , 廖世军 ^2, , 章新泉 ^3, , 童迎东 ^4,

1.华南理工大学应用化学系,广东,广州,510640

2.华南理工大学应用化学系,广东,广州,510640

3.江西省分析测试中心,江西,南昌,330029

4.江西省分析测试中心,江西,南昌,330029

关键词： ICP-MS , 钨精矿 , 杂质元素 , 内标法

Determination of impurity elements in tungsten concentrates by ICP-MS

用ICP-MS法同时测定钨精矿中Sn,P,Ca,Nb,Ta,Mo,Cu,Pb,Zn,As,Mn,Bi,Fe,Sb14种杂质元素含量.钨精矿试样经NaOH-Na2O2碱熔后,加入硝酸,钨以钨酸的形式从溶液中沉淀而分离,消除了钨基体的干扰.在样品溶液中加入内标元素45Sc,115In,205Tl,采用内标法进行校正,有效克服了基体效应、接口效应及仪器波动所产生的影响;通过优化仪器工作参数,选择适当待测元素的同位素,有效地克服了因质谱干扰所带来的影响.该方法加标回收率为90.5%～101.5%,相对标准偏差为1.2%～7.8%,分析结果与国家标准方法结果相吻合,具有快速、简便、准确等特点,可用于钨精矿及钨产品中杂质元素分析.

参考文献

[1]	GB 6150.1～19-1985.GB 6150.1～19-1985.钨精矿化学分析方法[S].
[2]	余国华,陈觉.高纯钨中杂质元素的化学光谱法测定[J].稀有金属材料与工程,1994(05):65-68.
[3]	杨秀环;汪丽;唐宝英;张展霞等.ICP-AES直接测定钨产品中杂质元素[J].光谱学与光谱分析,1998,18(05):576.
[4]	Yang X H;Wei J F;Liu H T et al.Direct determination of trace elements in tungsten products using ICP-OES[J].Spectrochimica Acta Part B-Atomic Spectroscopy,1998,53(10):1405.

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