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用等离子体源注入(PSII)在Si(100)上制备类金刚石膜,放电气体采用CH4, 用微波电子回旋共振(ECR)产生等离子体.将-20~-30 kV的高压加在衬底上,来提高离子的能量.通过Raman光谱和FT-IR光谱检测了类金刚石膜的化学组成及状态,并对其机械性能和表面形貌进行了检测.结果显示,硅片硬度和摩擦因数得到了改善,用PSII能够制备出性能优良的膜,可以将其应用到微电子器件(MEMS)上去.

参考文献

[1] Walter KC.;Baker NP.;Munson CP.;Scarborough WK.;Scheuer JT.;Wood BP.;Conrad JR.;Sridharan K.;Malik S.;Bruen RA.;Nastasi M. .Advances in PSII techniques for surface modification[J].Surface & Coatings Technology,1998(0):205-211.
[2] Robertson J. .Diamond-like amorphous carbon [Review][J].Materials Science & Engineering, R. Reports: A Review Journal,2002(4/6):129-281.
[3] Melissa J. Paterson .An investigation of the role of hydrogen in ion beam deposited a-C:H[J].Diamond and Related Materials,1998(6):908-915.
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