以五元系统BaO-PbO-Nd2O3-Bi2O3-TiO2为研究对象探讨化合物相与介电性能的定量关系.系统的主次晶相分别为BaNd2Ti5O14和Bi4Ti3O12.对系统进行X射线分析,用X射线衍射峰强度计算出系统中各物相的体积分数,再运用李赫德涅凯对数混合定则进行定量计算,得出的系统的介电性能与用仪器实测的系统参数相符.在本研究系统中,X衍射射线分析可以测定和定量表征烧结介质瓷中化合物含量,经过对系统中各化合物成分的介电性能测定,可计算出所研究系统的介电性能,从而可以作为一种介质的设计方法.本系统主要是BaO-PbO-Nd2O3-Bi2O3-TiO2系.Nd和Bi对Ba的取代是异价取代,故能准确定量测出和算出其化合物的含量.Pb和Ba是等价取代,其化合物的含量可用X射线衍射等方法测出,在本系统中因其加入量小,对结果影响小.
参考文献
[1] | 吴霞宛 .BaO-PbO-Nd2O3-Bi2O3-TiO2系陶瓷的物相和电性能[J].天津大学学报,1994,27(05):9. |
[2] | 李标荣.无机介电材料[M].上海:上海科学技术出版社,1986:57. |
[3] | Jenkins R;Snyder R L.Introduction to X-ray powder diffractometry[M].Wiley-Interscience Publication,1996:80-85. |
[4] | 贺宏朝 .CaO-SrO-TiO2-Bi2O3系统介电性能研究[D].天津:天津大学,1999. |
上一张
下一张
上一张
下一张
计量
- 下载量()
- 访问量()
文章评分
- 您的评分:
-
10%
-
20%
-
30%
-
40%
-
50%