通过X射线光电子能谱(XPS)分析研究了碳热还原氮化法制备的AlN微粉的表面结合状态.结果表明:AIN微粉的表面有明显的氧化层存在;AlN微粉表面结合状态为Al-O和Al-N复合型结合;杂质元素W主要是由球磨介质中的WC引入的,并以WO42-形式分布于AlN微粉表面.
参考文献
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| [2] | Kasori M et al.Thermal conductivity improvement of YAG added AlN ceramics in the grain boundary elimination process[J].Journal of the European Ceramic Society,1995,15(05):435-443. |
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| [4] | 关振铎.无机材料物理性能[M].北京:清华大学出版社,1991 |
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