针对介质材料,介绍了在毫米波段和亚毫米波段能够准确测量其复介电常数的准光学谐振腔法.准光学谐振腔具有高Q值、使用简便、样品放置容易等许多优点,能够有效地完成介质材料电介质参数精密测量的任务.这种谐振腔为半球型并由一个平面镜和一个凹面铜镜组成,采用固定腔长法或固定频率法进行测量.另外,还介绍了准光学谐振腔的测试系统和最新的研究成果及改进方法,例如测量多层薄膜及在更高频段的测量方法.
参考文献
| [1] | 夏军;梁昌洪 .毫米波准光腔双层介质电介质参数测量新技术[J].红外与毫米波学报,1994,13(04):285-288. |
| [2] | 张克潜.微波与光电子学中的电磁理论[M].北京:电子工业出版社,1994:570-573. |
| [3] | 雷丹,张其劭,李恩.用3mm准光腔测试介质片复介电常数[J].宇航材料工艺,2006(02):71-74. |
| [4] | Cullen A L;Nngenthiram P;Williams A D .Improvementin open resonator permittivity measurement[J].Electronics Letters,1972,8(23):577-592. |
| [5] | 周清一.微波测量技术[M].北京:国防工业出版社,1964:204-206. |
| [6] | Baker-Jarvis J.;Janezic M.D. .Analysis of a two-port flanged coaxial holder for shielding effectiveness and dielectric measurements of thin films and thin materials[J].IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility,1996(1):67-70. |
| [7] | 王守军,胡乐乐,徐得名.测量多层薄膜材料复介电系数的准光腔技术[J].电子学报,1998(05):30-33. |
| [8] | Takashi Shimizu;Zhewang Ma;Yoshio Kobayashi.Design of a grooved circular cavity for separating degenerate TE and TM Modes in dielectric substrate measurements[A].,2002:1019-1022. |
上一张
下一张
上一张
下一张
计量
- 下载量()
- 访问量()
文章评分
- 您的评分：
-
10%
-
20%
-
30%
-
40%
-
50%