直接用白铜合金片样定性扫描测定Ni、Cu和Zn的X一射线荧光强度值,作强度归一化可以半定量确定主量元素质量百分数(%),结果发现元素之间有明显的吸收-增强效应.改用溶液滤纸片薄膜制样测定,强度归一化的计算值与试样元素的推荐值十分吻合,说明元素之间的吸收-增强效应基本消除,研究的方法精确度高.
参考文献
[1] | 上海材料研究所.金属材料化学分析方法[M].北京:机械工业出版社,1981:123. |
[2] | 地矿部X-射线荧光分析编译组.X-射线荧光分析[M].,1987:123. |
[3] | 李时珍.飞利浦X-射线分析[C].,1994 |
[4] | 谢忠信.X-射线光谱分析[M].北京:科学出版社,1982:282. |
[5] | Chung F H et al.[J].X-ray Spectrometry,1974,13(04):172-175. |
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