建立了熔融制备的玻璃样片,用X射线荧光光谱分析(XRF)天然高岭土组分以及利用仪器所配(X40)软件包汇编程序,在程序中专门设定外加通道,反复输入烧失的近似数据,多次测量试样,直接测定烧失量的方法.解决了由于天然高岭土样品细散压片制备样品而引起的颗粒度效应和烧失量严重而影响测量归一化的问题.省略了预先做样品灼烧、恒重和称量等繁琐的操作,实现了天然高岭土组分的XRF光谱快速、准确和自动化程度高的分析.
参考文献
[1] | 上海材料研究所.金属材料化学分析方法[M].,1982:177. |
[2] | 《地矿部X射线荧光》编译组.射线光谱分析[M].北京:地质出版社,1987:44,53,81,136. |
[3] | 谢中信;赵忠玲.X射线光谱分析[M].北京:科学出版社,1992:56,81,100. |
[4] | 卢敬智.飞利浦X-射线仪器用户协会论文集[M].,1990:83. |
[5] | 飞利浦PW1404光谱仪手册(仪器专用)[M]. |
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