研究了(SIM+SME)训练法中的Cu-Zn-Al合金单向形状记忆效应ηO和双向形状记忆效应ηT.结果表明:随训练次数增加, 位错增加,晶格原子有序度降低,单向形状记忆效应先急剧下降,然后缓慢下降和趋于稳定.基本稳定时的单向形状记忆效应不到初时值的50%.伴随位错增加,引入更多择优取向位错,促使形成更多择优取向马氏体,导致双向形状记忆效应急剧上升,训练9次之内出现峰值,然后缓慢上升和趋于稳定.基本稳定时的双向形状记忆效应相当于峰值的64%～88%.同时,随训练次数增加,单向记忆的动作敏感性下降,然后趋于稳定.与初期动作敏感性值相比,1号合金基本稳定时下降58%.在元件设计中应注意动作敏感性下降问题和形状记忆效应下降问题.
参考文献
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