X射线衍射全谱拟合法测定碳/碳复合材料的点阵常数

宇航材料工艺 , 2010, 40(2): 94-96. doi: 10.3969/j.issn.1007-2330.2010.02.026

X射线衍射全谱拟合法测定碳/碳复合材料的点阵常数

王晓叶 ^1, , 李同起 ^2, , 郑斌 ^3, , 冯志海 ^4, , 李仲平 ^5,

1.航天材料及工艺研究所先进功能复合材料技术国防科技重点实验室,北京,100076

2.航天材料及工艺研究所先进功能复合材料技术国防科技重点实验室,北京,100076

3.航天材料及工艺研究所先进功能复合材料技术国防科技重点实验室,北京,100076

4.航天材料及工艺研究所先进功能复合材料技术国防科技重点实验室,北京,100076

5.航天材料及工艺研究所先进功能复合材料技术国防科技重点实验室,北京,100076

关键词： X射线衍射仪 , 全谱拟合法 , 点阵常数 , 石墨化度 , 微晶参数

Determination of Lattice Constants for C/C Composites by Using X- ray Diffraction Technique and Rietveld Refinement Method

Keywords： X-ray diffraction , Rietveld refinement method , Lattice constant , Graphitization degree , Crystallite sizes

利用X射线衍射仪,采用全谱拟含的方法,测定三种不同碳材料的点阵常数、石墨化度及微晶参数,测得三种碳材料(每个样品重复5次试验)六方晶系的a的标准偏差小于2.0×10~(-3),c的标准偏差小于1.4×10~(-3),石墨化度(g)的标准偏差小于1.5,微晶参数(L_(c002))的标准偏差小于0.5,是一种有效的测试碳材料晶体参数的方法.

Graphitization degree, lattice constant and crystallite sizes of three kinds of C/C composites were measured by rietveld refinement method ( whole spectrum fitting) of X-ray diffraction. The results show that standard deviation of crystal the parameter of the three C/C composites is less than 2.0 × 10~(-3), standard deviation of graphitization degree (g) is less than 1.5, standard deviation of crystallite sizes( L_(c002)) is less than 0.5. Rietveld refinement method of X-ray diffraction is effective for investigation of the crystal parameters of C/C composite.

参考文献

[1]	Fitzer e;Manocha L M.Carbon reinforcements and carboa/carbon composites[M].Springer-verlag
[2]	李树堂.晶体X射线衍射学基础[M].北京:冶金工业出版社,1990
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[6]	李圣华.石墨电极生产[M].北京:机械工业出版社,1988
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[8]	贺福.碳纤维及其应用技术[M].北京:化学工业出版社,2004

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