X射线衍射全谱拟合定量分析方法研究

1.航天材料及工艺研究所,先进功能复合材料技术重点实验室,北京100076

2.航天材料及工艺研究所,先进功能复合材料技术重点实验室,北京100076

3.航天材料及工艺研究所,先进功能复合材料技术重点实验室,北京100076

Quantitive Phase Analysis of Si-TiO2 by Rietveld Refinement of XRD Patterns

利用X射线衍射仪对不同配比的Si和TiO2样品进行分析,通过三种定量分析方法(峰高法、积分强度法、全谱结构拟合法)进行计算,并进行误差分析.结果表明:三种定量分析方法中,全谱结构拟合法最优,相对误差为±2％(n=3),误差最小.X射线衍射全谱拟合法是一种精确,快速的定量方法.

[1]	王英华.晶体X射线衍射学基础[M].北京:冶金工业出版社,1999
[2]	克鲁格;亚历山大.X射线衍射技术[M].北京:冶金工业出版社,1996
[3]	刘沃恒.不用纯试样X射线多相定量分析[J].,1979(03):224-233.
[4]	林树智;张喜章.普适X射线无标定量[J].相分析学报,1988(24):214.
[5]	陆金生;邸秀箮.修正理论计算参考强度比分析[J].金属学报,1983(19):161.
[6]	Smith D K;Johnson G G J R;Schieble A et al.X ray powder diffraction methocl using the full diffraction[J].PowderDiffraction,1987,2(02):73-77.

上一张下一张

计量

作者相关

文章评分