对TFT器件工艺中的反应性离子刻蚀技术进行了研究,给出了TFT器件工艺中常见薄膜刻蚀速率的实验结果,并讨论了掺杂气体(如H2、Ar)对刻蚀速率的影响.
参考文献
[1] | 清华大学等编译,薄膜科学与技术手册(上册),机械工业出版社, 1991, 628 |
[2] | 陈克绍、曹永伟译,麻莳立男著,薄膜技术,台湾金文图书有限公司印行, 1986, 272 |
上一张
下一张
上一张
下一张
计量
- 下载量()
- 访问量()
文章评分
- 您的评分:
-
10%
-
20%
-
30%
-
40%
-
50%