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对TFT器件工艺中的反应性离子刻蚀技术进行了研究,给出了TFT器件工艺中常见薄膜刻蚀速率的实验结果,并讨论了掺杂气体(如H2、Ar)对刻蚀速率的影响.

参考文献

[1] 清华大学等编译,薄膜科学与技术手册(上册),机械工业出版社, 1991, 628
[2] 陈克绍、曹永伟译,麻莳立男著,薄膜技术,台湾金文图书有限公司印行, 1986, 272
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