介绍了利用电学测试方法测量大功率LED参考热阻的原理和方法.提出了一种新的基于电学测试的参考热阻测试方法--脉冲测量法.该方法在自主研发的系统上得到应用并取得了满意的效果.研究结果表明,该方法在热阻测试方面具有可靠、稳定和精确等特点.
参考文献
[1] | Heliototis G,Stavrinous P N,Bradley D D C.Spectral conversion of InGaN ultraviolet microcavity light-emitting diodes using fluorine-based red,green-,blue-and white-light-emitting polymer overlayer films[J].Appl.Phys.Lett.,2005,87:503-505. |
[2] | 王建,黄先,刘丽,等.温度和电流对白光LED发光效率的影响[J].发光学报,2008,29(2):358-363. |
[3] | 刘一兵,丁洁.功率型LED封装技术[J].液晶与显示,2008,23(4):508-512. |
[4] | 陈明祥,马泽涛,刘胜.LED感应局部加热封装试验研究[J].发光学报,2007,28(2):241-246. |
[5] | 冯士维,谢雪松,吕长杰,等.半导体器件热特性的电学测量与分析[J].半导体学报,1999,20(5):358-364. |
[6] | International Organization for Standardization.MIL-STD-750D Notice 3 Method 3101.3 Thermal Impedance(Response)Testing of Diodes[S].2006. |
[7] | 中华人民共和国信息产业部.SJ 20788-2000半导体二极管热阻抗测试方法[S].北京:电子工业出版社,2000. |
[8] | Electronic Industries Association Engineering Department.EIA/JESD 51-1.Integrated circuits thermal measurement method-electrical test method(single semiconductor device)[S].U.S.JEDEC,1995. |
[9] | Xi Y,Schubert E F.Junction temperature measurement in GaN ultraviolet light emitting diodes using diode forward voltage method[J].Appl.Phys.Lett.,2004,85(12):2163-2165. |
[10] | 张跃宗,冯士维,谢雪松,等.半导体功率发光二极管温升和热阻的测量研究[J].半导体学报,2006,27(2):350-353. |
[11] | 中华人民共和国国家计量技术规范.JJF1059-1999 测量不确定度评定和表示[S].北京:中国计量出版社,2007. |
[12] | 潘建根,岳红轩,沈海平,等.分光法测量LED颜色的不确定度分析[J].光电子·激光,2008,19(2):149-151. |
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