使用N&K多功能薄膜分析仪对OLED的结构进行分析,对比了不同时间室温老化实验样品的反射率波谱.对反射率进行计算拟合,得到OLED的多层膜结构信息.对相同室温老化实验条件下的完好器件和失效器件的结构进行了对比,发现对于结构为ITO/NPB/Alq3/LiF/Al的器件,主要是Alq3和LiF层发生变化引起器件失效.由此也证明使用N&K多功能薄膜分析仪是OLED失效分析的有效手段.
参考文献
| [1] | Hung L S,Chen C H.Recent process of molecular organic electroluminescent materials and devices[J].Materials Science and Engineering:R,2002,39:143-222. |
| [2] | 彭雅芳,俞宏坤,蒋益明.OLED器件电极腐蚀研究[J].复旦大学学报,2008,47(6):769-772. |
| [3] | 陈宏."光学测量"的先锋[J].中国集成电路,2006,84:74-75. |
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