采用溶胶-凝胶法制备了Ba0.5Sr0.5NbzTi1-zO3薄膜(Nb=0-4.12mol%),采用HPAgilent 429A阻抗分析仪等测试方法研究了微量元素铌对Ba0.5Sr0.5NbzTi1-zO3(BSNT)薄膜介电性能的影响.当Nb分别为0-4.12mol%时,相对介电常数εr降低而介质损耗tanδ均得到了改善,当测试频率为1kHz,tanδ由0.09降低到0.067;居里温度Tm逐渐移向低温;在测试频率2.0-10MHz范围内,εr、tanδ均能表现出较好的频散特性.采用XRD、TEM等测试方法分析了薄膜的结构特征.薄膜为四方钙钛矿晶体结构,但Nb的溶入改变了晶胞参数的c/a比,减小了薄膜的晶粒尺寸,提高了薄膜的致密度.
参考文献
[1] | Garcia S;Fon R;Portelles J .Effect of Nb doping on(Sr,Ba)TiO3(BST) ceramic samples[J].Journal of Electroceramics,2001,6(02):101-108. |
[2] | AL-SHAREEF H N;Dimos D .Leakage and reliability characteristics of lead zirconate titanate thin-film capacitors[J].Journal of the American Ceramic Society,1997,80(12):3127-3132. |
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