耐电晕聚酰亚胺薄膜的可靠性研究

绝缘材料, 2006, 39(3): 40-45. doi: 10.3969/j.issn.1009-9239.2006.03.011

耐电晕聚酰亚胺薄膜的可靠性研究

李鸿岩 ^1, , 王峰 ^2, , 张波涛 ^3, , 刘斌 ^4, , 陈寿田 ^5,

1.西安交通大学电力设备电气绝缘国家重点实验室,陕西,西安,710049

2.西安交通大学电力设备电气绝缘国家重点实验室,陕西,西安,710049

3.西安交通大学电力设备电气绝缘国家重点实验室,陕西,西安,710049

4.西安交通大学电力设备电气绝缘国家重点实验室,陕西,西安,710049

5.西安交通大学电力设备电气绝缘国家重点实验室,陕西,西安,710049

基金项目: 国家重点实验室基金

关键词：威布尔分布 , 耐电晕 , 可靠性

A Reliability Study on Corona-resistant Film of Polyimide

为了评价聚酰亚胺/纳米TiO2复合薄膜的耐电晕寿命,对自制的聚酰亚胺/纳米TiO2薄膜进行加速寿命试验,并对得到的实验结果用两参数Weibull分布解析法计算,得出了该薄膜在(15±3)℃,770 V、20 kHz的脉冲电压条件下的累积失效概率方程和可靠度方程等可靠性参数.Weibull假设检验结果表明,所得试验结果服从Weibull分布.

参考文献

[1]	樊友兵,李鸿岩,周升,刘斌,陈寿田.聚酰亚胺 /纳米二氧化钛复合物的合成与性能研究[J].绝缘材料,2004(03):22-25.
[2]	徐安.参数估计与假设检验的最小二乘估计--相关系数检验方法[J].济南交通高等专科学校学报,2001(03):1-5.
[3]	金星;洪延姬;沈怀荣.可靠性数据计算及应用[M].北京:国防工业出版社,2003:42-43.
[4]	中国电子技术标准化研究所.可靠性试验用表[M].北京:国防工业出版社,1987:240-241.

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