制备了组分为xCuFe2O4-(1-x)PbZr0.53Ti0.47O3(其中x=0．1，0．2，0．3，1．0)的磁电复合材料，XRD实验表明，样品中只存在着CuFe2O4和PbZr0.53Ti0.4703相．利用多功能摆测量了样品在低频下(0.1--6．4Hz)的内耗，同时利用HP4194A阻抗分析仪测量了样品低频(100Hz--1 MHz)的介电损耗，分析了复合物中CuFe2o4和PZT对内耗及介电损耗分别所作的贡献．
参考文献
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