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用光-CVD 技术,在100—200℃的温度下,在Si 片上淀积出了Si_3N_4薄膜。本文研究了薄膜淀积速率与淀积参数的关系,讨论了淀积的Si_3N_4薄膜的物理性质、化学性质和力学性质。

Si_3N_4 films have been deposited on Si wafers at temperature range of 100—200℃ by photo-CVD technique.This paper presents the relationship between the deposi-tion rate and other deposition parameters of the films.The physical,chemical and mechani-cal pro

参考文献

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