欢迎登录材料期刊网

材料期刊网

高级检索

介绍了用能量色散X射线荧光光谱法(EDXRF)同时测定W-Mo-Ni-Fe合金组分的分析方法.当W、Mo、Ni和Fe的质量分数依次为70%~90%、7%~21%、2%~6%和1%~3%时,其测量结果的相对标准偏差依次不大于0.5%、1.5%、3%和4%.该方法快速、简便.

参考文献

[1] 茅祖兴.从47届丹佛X射线会议看X射线荧光分析的发展[J].岩矿测试,1999(02):146-149.
[2] 谢荣厚;高新华;邬时海 .[J].冶金分析,1997,17(02):34.
[3] 董慧茹,董吉源.X 射线荧光光谱仪的进展[J].分析仪器,1998(02):6.
[4] 谢荣厚,高新华,盛伟志,丁志强.现代X射线荧光光谱仪的进展[J].冶金分析,1999(01):32-36.
[5] Wallace P L et al.[J].X-Ray Spectrometry,1978,7(04):212.
[6] 杨明太,高戈,齐红莲.EDXRF法无损测定Ni-Mn-Co触媒合金组份[J].原子能科学技术,2000(Z1):49-52.
[7] 刘亨远,严振庄,谢东.X 射线荧光法精确测定金属镀层的镀布量[J].分析仪器,1997(01):44.
[8] 杨明太,高戈,陈锦华,齐红莲.EDXRF法直接测定氧化物陶瓷材料组分[J].稀有金属材料与工程,2003(04):317-320.
上一张 下一张
上一张 下一张
计量
  • 下载量()
  • 访问量()
文章评分
  • 您的评分:
  • 1
    0%
  • 2
    0%
  • 3
    0%
  • 4
    0%
  • 5
    0%