介绍了用能量色散X射线荧光光谱法(EDXRF)同时测定W-Mo-Ni-Fe合金组分的分析方法.当W、Mo、Ni和Fe的质量分数依次为70%~90%、7%~21%、2%~6%和1%~3%时,其测量结果的相对标准偏差依次不大于0.5%、1.5%、3%和4%.该方法快速、简便.
参考文献
[1] | 茅祖兴.从47届丹佛X射线会议看X射线荧光分析的发展[J].岩矿测试,1999(02):146-149. |
[2] | 谢荣厚;高新华;邬时海 .[J].冶金分析,1997,17(02):34. |
[3] | 董慧茹,董吉源.X 射线荧光光谱仪的进展[J].分析仪器,1998(02):6. |
[4] | 谢荣厚,高新华,盛伟志,丁志强.现代X射线荧光光谱仪的进展[J].冶金分析,1999(01):32-36. |
[5] | Wallace P L et al.[J].X-Ray Spectrometry,1978,7(04):212. |
[6] | 杨明太,高戈,齐红莲.EDXRF法无损测定Ni-Mn-Co触媒合金组份[J].原子能科学技术,2000(Z1):49-52. |
[7] | 刘亨远,严振庄,谢东.X 射线荧光法精确测定金属镀层的镀布量[J].分析仪器,1997(01):44. |
[8] | 杨明太,高戈,陈锦华,齐红莲.EDXRF法直接测定氧化物陶瓷材料组分[J].稀有金属材料与工程,2003(04):317-320. |
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