浸渍条件对PEDOT型固体铝电解电容器容量引出率的影响

功能材料, 2005, 36(9): 1377-1379.

浸渍条件对PEDOT型固体铝电解电容器容量引出率的影响

汪斌华 ^1, , 邓永红 ^2, , 戈钧 ^3, , 周啸 ^4, , 王晓工 ^5, , 杨邦朝 ^6,

1.电子科技大学,微电子与固体电子学院,四川,成都,610041;厦门信达电子有限公司企业博士后工作站,福建,厦门,361021

2.清华大学,化工系,北京,100084

3.清华大学,化工系,北京,100084

4.清华大学,化工系,北京,100084

5.清华大学,化工系,北京,100084

6.电子科技大学,微电子与固体电子学院,四川,成都,610041

关键词：聚(3,4-乙撑二氧噻吩) , 固体铝电解电容器 , 容量引出率 , 浸渍条件

Influence of dipping conditions on the rate of capacitance withdrawing of solid electrolytic aluminum capacitor using PEDOT as conducing cathodal layer

利用化学氧化法在电容器芯包中形成导电高分子固体阴极层,制备出固体铝电解电容器样品,考察了单体浓度、浸渍次数、氧化剂/单体浓度比例等浸渍条件对固体铝电解电容器容量引出率的影响.结果表明,在按理论化学计量比配置浸渍液的前提下,随着单体浓度和浸渍次数的增加,电容器的容量引出率呈递增趋势,最高达到标称容量的93.3%.氧化剂相对于单体的浓度比例对电容器的容量引出率有显著影响,随着氧化剂浓度的提高,电容器的容量引出率显著增加,当氧化剂相对于单体的摩尔比增加到略高于理论化学计量比,达到2.5:1时,电容器的容量引出率达到峰值,继续增大氧化剂的浓度,电容器的容量引出率下降.

参考文献

[1]	Groenendaal L;Jonas F;Freitag D et al.[J].Advanced Materials,2000,12:487.
[2]	陈泳,杨春杰,唐威,朱绪飞.固体铝电解电容器用导电高分子制备工艺进展[J].电子元件与材料,2003(11):6-9.
[3]	张庆武,周啸,姜翠玲,于家宁.铝固体电解电容器电解质研究进展Ⅱ.导电聚合物型铝固体电解电容器[J].电子元件与材料,2002(11):24-27.
[4]	Hohnholz D;Macdiarmid A G;Sarno D M et al.[J].Chemical Communications,2001,16(12):2444-2445.

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