欢迎登录材料期刊网

材料期刊网

高级检索

探讨了应用电感耦合等离子体质谱(ICP-MS)法测定硅铁中B、Mg、V、Co、Cr、Ni、Cu、Mo、Sn共9种杂质元素的分析方法.为了避免Cl对待测元素的干扰,选择硝酸和氢氟酸来溶解样品,并考察了硼元素损失情况.通过对各待测元素同位素潜在干扰、试剂空白等效浓度及干扰程度的探讨,确定了测量用同位素11B、24Mg、51V、59Co、52Cr、60Ni、63Cu、98Mo、120Sn.采用基体匹配法消除基体干扰对测定元素的影响.方法用于硅铁标准物质分析,测定值与认定值符合较好,方法的检出限为0.03 μg/L(Sn)~0.45 μg/L(B),各元素测定结果的相对标准偏差(RSD)均小于10%,加标回收率为80%~110%.

参考文献

[1] 侯列奇,李洁,王树安,廖志海,费浩.电感耦合等离子体原子发射光谱法测定硅铁材料中10种微量元素[J].冶金分析,2008(01):52-54.
[2] 方静,葛小鹏.苯基荧光酮光度法测定硅铁合金中痕量锡[J].冶金分析,2000(03):60-62.
[3] 葛小鹏.硅铁合金中痕量硼的分光光度测定[J].冶金分析,2001(03):26-28.
[4] 侯艳红,纪杉,杨桂香.石墨炉原子吸收光谱法测定硅铁材料中痕量钴[J].冶金分析,2009(09):72-74.
[5] 华静,许祥红,程坚平,郭德济,王光明.石墨炉原子吸收法测定硅铁合金中痕量铬[J].冶金分析,2001(04):66-68.
[6] 徐文荣.粉末压片XRFS法快速测定硅铁合金中主要元素[J].福建分析测试,2002(03):1624-1625.
[7] 鲍希波,石毓霞,赵靖,韩斌,卢女平.熔融制样-X射线荧光光谱法测定硅铁合金中主次元素[J].冶金分析,2010(05):14-18.
[8] 刘先国,方金东.电感耦合等离子体原子发射光谱法测定硅铁中微量元素[J].岩矿测试,2002(01):63-65.
[9] GB/T 24194-2009.硅铁铝、钙、锰、铬、钛、铜、磷和镍含量的测定电感耦合等离子体原子发射光谱法[S].
[10] 艾军.ICP-AES 法测定硅铁中痕量元素[J].分析试验室,2001(05):51-53.
[11] Yang, CK;Chi, PH;Lin, YC;Sun, YC;Yang, MH .Development of an on-line isotope dilution laser ablation inductively coupled plasma mass spectrometry (LA-ICP-MS) method for determination of boron in silicon wafers[J].Talanta: The International Journal of Pure and Applied Analytical Chemistry,2010(3):1222-1227.
[12] Pisonero J;Kroslakova I;Gunther D;Latkoczy C .Laser ablation inductively coupled plasma mass spectrometry for direct analysis of the spatial distribution of trace elements in metallurgical-grade silicon[J].Analytical and bioanalytical chemistry,2006(1):12-20.
[13] Steve J Hill.Inductively coupled plasma spectrome try and its application[M].UK:Blackwell publishing,2007:12-13.
[14] 齐荣;闫冬霞;滕璇 等.电感耦合等离子体原子发射光谱法测定硅铁中痕量硼[J].冶金分析,2012,32(增:化学分册):123-125.
上一张 下一张
上一张 下一张
计量
  • 下载量()
  • 访问量()
文章评分
  • 您的评分:
  • 1
    0%
  • 2
    0%
  • 3
    0%
  • 4
    0%
  • 5
    0%