以纯铁为熔剂,采用离心浇铸法制样,建立钨铁中钨元素的X射线荧光光谱快速分析方法.试验证明了熔融后钨元素在样品中的分布均匀性良好,熔融多次样品间不存在显著差异.同时,对样品中可能存在的谱线重叠干扰因素进行了试验测量和排除.试验采用国家标准样品及人工配置校准样品制作校准曲线,线性范围为50.00％～85.00％.用生产样品的重量法测定值与方法的分析值进行比对,差值在±0.20％以内,方法可以满足常规检测工作中对钨铁中钨含量的快速测定要求.
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