基片斜切角度对YBCO薄膜微观结构及超导电性能的影响

稀有金属材料与工程, 2007, 36(5): 862-864.

基片斜切角度对YBCO薄膜微观结构及超导电性能的影响

王天生 ^1, , 田永君 ^2, , 彭炜 ^3, , 漆汉宏 ^4, , 李林 ^5,

1.燕山大学,亚稳材料制备技术与科学国家重点实验室,河北,秦皇岛,066004;中国科学院物理研究所,超导国家重点实验室,北京,100080

2.燕山大学,亚稳材料制备技术与科学国家重点实验室,河北,秦皇岛,066004

3.中国科学院物理研究所,超导国家重点实验室,北京,100080

4.燕山大学,亚稳材料制备技术与科学国家重点实验室,河北,秦皇岛,066004

5.中国科学院物理研究所,超导国家重点实验室,北京,100080

关键词： YBCO薄膜 , 微观结构 , 斜切基片 , 超导电性

Effects of Substrate Miscut Angle on Microstructure and Superconductivity of YBCO Films

研究基片斜切角度对YBCO薄膜微观结构及超导电性能的影响.采用脉冲激光沉积(PLD)法在0°～6°斜切(001)SrTiO3基片上制备了具有c取向的YBCO薄膜.用XRD和TEM对薄膜微观结构进行了分析,用标准四引线法测定薄膜电阻-温度关系,从而确定薄膜的超导电性能.结果表明,随斜切角度的增大,薄膜晶体质量下降,晶格弯曲畸变程度增大,超导临界转变温度降低,转变宽度增大.

参考文献

[1]	Lippmaa M;Nakagawa N;Kawasaki M et al.[J].Applied Physics Letters,1999,74:3543.
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[6]	Nie J C;Shoji A;Koyanagi M et al.[J].Japanese Journal of Applied Physics,1998,37:L1014.
[7]	Haage T;Habermeier HU .[J].Zegenhagen J Surf Sci,1997,370:L158.

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