一种自制聚酰亚胺膜与商品Kapton H膜的驻极体性能比较

功能材料, 2001, 32(6): 617-619.

一种自制聚酰亚胺膜与商品Kapton H膜的驻极体性能比较

李晓波 ^1, , 陈嵘 ^2, , 张冶文 ^3, , 夏钟福 ^4,

1.同济大学波耳固体物理研究所,

2.同济大学波耳固体物理研究所,

3.同济大学波耳固体物理研究所,

4.同济大学波耳固体物理研究所,

基金项目: 中-法合作项目(PRA)

关键词：聚酰亚胺 , 驻极体 , TSD

Comparison of homemade polyimide films and Kapton H films on the electrets properties

通过和杜邦公司产Kapton H商品膜驻极体性能比较,系统研究了由国产ZPKI型聚酰亚胺前体溶液制备薄膜的驻极体性能.通过常温和高温正负电晕充电,补偿法表面电位衰减测量及开路热刺激放电(TSD)电流谱等技术,研究了常温和高温驻极时PI膜的电荷稳定性及其电荷输运特性,高温致密化处理对样品驻极体性能的影响,以及正负电晕充电稳定性的化学结构分析.

参考文献

[1]	丁孟贤;何天白.聚酰亚胺新型材料[M].北京:科学出版社,1998:284.
[2]	江键;夏钟福;王振中 .[J].电声技术,1991,10:2-5.
[3]	Wu J W;BinkleyE S;Kenney JT et al.[J].Journal of Applied Physics,1993,73(12):8471.
[4]	夏钟福;林华茂;江键.第六届全国工程电介质物理学术会议论文集[C].,1991:337-340.
[5]	Hara T et al.[J].Japanese Journal of Applied Physics,1985,24(08):970-973.

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